วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2542

การทวนสอบวงจรเป็นกระบวนการที่ใช้ตรวจสอบความถูกต้องตรงกันระหว่างคุณลักษณะของวงจรที่ได้ออกแบบไว้กับวงจรที่ได้จากการสังเคราะห์ วิทยานิพนธ์ฉบับนี้นำเสนอการออกแบบและพัฒนาขั้นตอนวิธีการทวนสอบวงจรอสมวารแบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟเชิงลำดับชั้นโดยใช้วิธีการจำลองเชิงเหตุการณ์ ขั้นตอนวิธีการทวนสอบวงจรแบ่งเป็นสองขั้น ได้แก่ ขั้นที่หนึ่งทำการทวนสอบแต่ละวงจรย่อย และขั้นที่สองทำการทวนสอบทั้งวงจรโดยจะพิจารณาเฉพาะสัญญาณเชื่อมต่อของแต่ละวงจรย่อย ในแต่ละขั้นของการทวนสอบจะใช้วิธีการจำลองเชิงเหตุการณ์ด้วยภาษา Verilog กับเวกเตอร์ทดสอบที่สร้างขึ้นมา การสร้างเวกเตอร์ทดสอบจะได้มาจากวิเคราะห์ซิกแนลทรานสิชันกราฟโดยใช้เทคนิคต่างๆ ร่วมกัน ได้แก่ เทคนิคการคอนแทรคซิกแนลทรานสิชันกราฟ แนวความคิดการวิเคราะห์คุณสมบัติ concurrent temporal relation ของการเปลี่ยนแปลงสัญญาณในซิกแนลทรานสิชันกราฟสำหรับวงจรที่มีการทำงานแบบอินพุต-เอาต์พุต และเทคนิคการทดสอบเส้นทางพื้นฐาน นอกจากนี้ยังประยุกต์ใช้เทคนิคการประเมินความเชื่อถือได้ด้านเวลาของวงจรอสมวารเพื่อตรวจสอบความถูกต้องในการทำงานของวงจรที่มีโมเดลความหน่วงแบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟด้วย ขั้นตอนวิธีการทวนสอบวงจรอสมการที่ได้นำเสนอในงานวิจัยฉบับนี้ เป็นวิธีการทวนสอบอย่างกึ่งแบบแผนแบบ smart simulation นับเป็นวิธีการทวนสอบที่ได้นำเสนอเพื่อแก้ไขข้อจำกัดของวิธีการทวนสอบแบบเดิม ซึ่งจากผลการทดลองในการสร้างเวกเตอร์ทดสอบเพื่อทำการทวนสอบขั้นที่หนึ่งกับเกณฑ์เปรียบเทียบสมรรถนะแสดงให้เห็นว่าเมื่อนำตัววัดทางซอฟต์แวร์ ได้แก่ ค่าความซับซ้อนไซโคลเมติกมาใช้เป็นแนวทางกำหนดจำนวนเวกเตอร์ทดสอบจะสามารถลดจำนวนเวกเตอร์ทดสอบได้เท่ากับ 21.08% จากจำนวนเวกเตอร์ทดสอบที่เป็นไปได้ทั้งหมด และสามารถลดจำนวนเวกเตอร์ทดสอบได้เท่ากับ 87.81% เมื่อเทียบกับวิธีการทวนสอบแบบทั้งวงจร นอกจากนี้ขั้นตอนวิธีการทวนสอบเชิงลำดับชั้นยังมีข้อดีอื่นๆ อีก ได้แก่ ช่วยลดความซับซ้อนในการทวนสอบทั้งวงจร สามารถตรวจพบความผิดพลาดได้รวดเร็วโดยไม่จำเป็นต้องทำการทวนสอบทั้งวงจรเสร็จสิ้น และสามารถนำผลการทวนสอบมาใช้กับวงจรย่อยที่มีโครงสร้างเหมือนกันได้อีก