| ชื่อเรื่อง | : | การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร |
| นักวิจัย | : | สมโชค เชวงชวลิต |
| คำค้น | : | วงจรอะซิงโครนัส |
| หน่วยงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| ผู้ร่วมงาน | : | อาทิตย์ ทองทักษ์ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ |
| ปีพิมพ์ | : | 2548 |
| อ้างอิง | : | 9741765991 , http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/6941 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2548 วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรอสมวารไปป์ไลน์รหัสรางคู่ ซึ่งใช้วิธีการออกแบบส่วนสแกนด้วยระดับสัญญาณมาประยุกต์ใช้ และได้ออกแบบวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรคูณเลขอิงดรรชนีแบบอสมวารที่ใช้อัลกอริธึมการคูณแบบเชื่อมตรงขนาด 16 บิต ซึ่งมี 3 แบบ คือสายโซ่สแกนสายเดียว สายโซ่สแกนหลายสาย และสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สายโซ่สแกนสายเดียวจะต่อสายโซ่สแกนในแต่ละรีจิสเตอร์สแกนเข้าด้วยกันเป็นสายเดียว โดยมีความยาวของสายโซ่สแกนเป็น 535 บิต และเวลาที่ใช้ในการทดสอบเป็น 128.8 ไมโครวินาที ส่วนสายโซ่สแกนหลายสายและสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส จะแบ่งสายโซ่สแกนออกเป็นหลายสาย ซึ่งตามโครงสร้างของวงจรทดสอบในวิทยานิพนธ์นี้จึงแบ่งสายโซ่สแกนออกเป็น 4 สาย โดยความยาวสูงสุดของสายโซ่สแกนคือ 179 บิต และการควบคุมการทำงานนั้นจะแยกตามสายโซ่สแกน โดยเวลาที่ใช้ในการทดสอบเป็น 43.4 ไมโครวินาที ผลการจำลองการทำงานแสดงให้เห็นว่าวงจรทดสอบที่มีสายโซ่สแกนแบบต่างๆ นั้นสามารถทำงานในโหมดปกติได้อย่างถูกต้อง และสามารถหาความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณในจุดเดียวได้ สำหรับสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สามารถตรวจจับข้อมูลเอาต์พุตที่ไม่ใช่รหัสที่เกิดจากความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณได้ โดยไม่ต้องนำข้อมูลออกจากสายโซ่สแกน |
| บรรณานุกรม | : |
สมโชค เชวงชวลิต . (2548). การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. สมโชค เชวงชวลิต . 2548. "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. สมโชค เชวงชวลิต . "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2548. Print. สมโชค เชวงชวลิต . การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2548.
|
