ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร
นักวิจัย : สมโชค เชวงชวลิต
คำค้น : วงจรอะซิงโครนัส
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : อาทิตย์ ทองทักษ์ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2548
อ้างอิง : 9741765991 , http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/6941
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2548

วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรอสมวารไปป์ไลน์รหัสรางคู่ ซึ่งใช้วิธีการออกแบบส่วนสแกนด้วยระดับสัญญาณมาประยุกต์ใช้ และได้ออกแบบวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรคูณเลขอิงดรรชนีแบบอสมวารที่ใช้อัลกอริธึมการคูณแบบเชื่อมตรงขนาด 16 บิต ซึ่งมี 3 แบบ คือสายโซ่สแกนสายเดียว สายโซ่สแกนหลายสาย และสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สายโซ่สแกนสายเดียวจะต่อสายโซ่สแกนในแต่ละรีจิสเตอร์สแกนเข้าด้วยกันเป็นสายเดียว โดยมีความยาวของสายโซ่สแกนเป็น 535 บิต และเวลาที่ใช้ในการทดสอบเป็น 128.8 ไมโครวินาที ส่วนสายโซ่สแกนหลายสายและสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส จะแบ่งสายโซ่สแกนออกเป็นหลายสาย ซึ่งตามโครงสร้างของวงจรทดสอบในวิทยานิพนธ์นี้จึงแบ่งสายโซ่สแกนออกเป็น 4 สาย โดยความยาวสูงสุดของสายโซ่สแกนคือ 179 บิต และการควบคุมการทำงานนั้นจะแยกตามสายโซ่สแกน โดยเวลาที่ใช้ในการทดสอบเป็น 43.4 ไมโครวินาที ผลการจำลองการทำงานแสดงให้เห็นว่าวงจรทดสอบที่มีสายโซ่สแกนแบบต่างๆ นั้นสามารถทำงานในโหมดปกติได้อย่างถูกต้อง และสามารถหาความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณในจุดเดียวได้ สำหรับสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สามารถตรวจจับข้อมูลเอาต์พุตที่ไม่ใช่รหัสที่เกิดจากความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณได้ โดยไม่ต้องนำข้อมูลออกจากสายโซ่สแกน

บรรณานุกรม :
สมโชค เชวงชวลิต . (2548). การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
สมโชค เชวงชวลิต . 2548. "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
สมโชค เชวงชวลิต . "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2548. Print.
สมโชค เชวงชวลิต . การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2548.