ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ

หน่วยงาน สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ
นักวิจัย : อนุชา เรืองพานิช , สรายุทธ วิศวแสวงสุข , Anucha Ruangphanit
คำค้น : Electric circuits , Electrical and electronic engineering , Engineering and technology , Thin film , ฟิล์มบาง , ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ
หน่วยงาน : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2546
อ้างอิง : http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/12832
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

บทความนี้เสนอเทคนิคการออกแบบและเทคนิคการวัดความต้านทานของ ฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือในกระบวนการสร้าง CMOS 5 um polysilicon gate

This article presents the designing technique and the resistance measurement technique of thin film and diffusion layer in CMOS 5 um polysilicon gate process fabrication.

บรรณานุกรม :
อนุชา เรืองพานิช , สรายุทธ วิศวแสวงสุข , Anucha Ruangphanit . (2546). การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ.
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
อนุชา เรืองพานิช , สรายุทธ วิศวแสวงสุข , Anucha Ruangphanit . 2546. "การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ".
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
อนุชา เรืองพานิช , สรายุทธ วิศวแสวงสุข , Anucha Ruangphanit . "การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ."
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2546. Print.
อนุชา เรืองพานิช , สรายุทธ วิศวแสวงสุข , Anucha Ruangphanit . การออกแบบและการวัดความต้านทานของฟิล์มบางและชั้นแพร่สารเจือ. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2546.