| ชื่อเรื่อง | : | An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER |
| นักวิจัย | : | Wang, Zhuping , Mo, Huiyu , Wang, Han , Wang, Danwei |
| คำค้น | : | - |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2555 |
| อ้างอิง | : | Wang, Z., Mo, H., Wang, H.,& Wang, D. (2012). An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER. 2012 7th IEEE Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA), 69 - 72. , http://hdl.handle.net/10220/12871 , http://dx.doi.org/10.1109/ICIEA.2012.6360699 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | In this paper, an affine invariance feature detection method based on Scale Invariant Feature Transform (SIFT) and Maximally Stable Extremal Regions (MSER) is proposed. Classical SIFT algorithm is not robust to affine deformations, because it is based on DOG detector which extracts circle regions for keypoint location. In order to overcome this disadvantage, DOG detector in conventional SIFT algorithm is replaced by MSER detector which is robust to affine deformation. Then these regions are normalized and extracted using SIFT. Simulation studies are carried out to show the effectiveness of the proposed method to affine transform in comparison to traditional SIFT algorithm. |
| บรรณานุกรม | : |
Wang, Zhuping , Mo, Huiyu , Wang, Han , Wang, Danwei . (2555). An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Wang, Zhuping , Mo, Huiyu , Wang, Han , Wang, Danwei . 2555. "An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Wang, Zhuping , Mo, Huiyu , Wang, Han , Wang, Danwei . "An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print. Wang, Zhuping , Mo, Huiyu , Wang, Han , Wang, Danwei . An affine invariant feature detection method based on SIFT and MSER. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
