| ชื่อเรื่อง | : | การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร |
| นักวิจัย | : | สมโชค เชวงชวลิต |
| คำค้น | : | SCAN TESTING , FULL SCAN CHAIN , MULTIPLE SCAN CAHIN , DUAL-RAILPIPELINE , ASYNCHRONOUS CIRCUIT |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2548 |
| อ้างอิง | : | http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082548000209 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรสมวารไปป์ไลน์รหัสรางคู่ซึ่งใช้วิธีการออกแบบส่วนสแกนด้วยระดับสัญญาณมาประยุกต์ใช้ และได้ออกแบบวิธีการทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรคูณเลขอิงดรรชนีแบบอสมวารที่ใช้อัลกอริทึมการคูณแบบเชื่อมตรงขนาด16 บิต ซึ่งมี 3 แบบ คือสายโซ่สแกนสายเดียว สายโซ่สแกนหลายสาย และสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สายโซ่สแกนสายเดียวจะต่อสายโซ่สแกนในแต่ละรีจิสเตอร์สแกนเข้าด้วยกันเป็นสายเดียวโดยมีความยาวของสายโซ่สแกนเป็น 535 บิต และเวลาที่ใช้ในการทดสอบเป็น 128.8 ไมโครวินาทีส่วนสายโซ่สแกนหลายสายและสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัสจะแบ่งสายโซ่สแกนออกเป็นหลายสาย ซึ่งตามโครงสร้างของวงจรทดสอบ ในวิทยานิพนธ์นี้จึงแบ่งสายโศ่สแกนออกเป็น 4 สาย โดยความยาวสูงสุดของสายโซ่สแกนคือ 179 บิต และการควบคุมการทำงานนั้นจะแยกตามสายโซ่สแกน โดยเวลาที่ใช้ในการทดลองเป็น 43.4 ไมโครวินาที ผลการจำลองการทำงานแสดงให้เห็นว่าวงจรทดสอบที่มีสายโซ่สแกนแบบต่าง ๆ นั้นสามารถทำงานในโหมดปกติได้อย่างถูกต้อง และสามารถหาความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณในจุดเดียวได้ สำหรับสายโซ่สแกนหลายสายที่มีตัวตรวจจับข้อมูลที่ไม่ใช่รหัส สามารถตรวจจับข้อมูลเอาต์พุตที่ไม่ใช่รหัสที่เกิดจากความผิดพร่องชนิดคงค่าระดับสัญญาณได้โดยไม่ต้องนำข้อมูลออกจากสายโซ่สแกน |
| บรรณานุกรม | : |
สมโชค เชวงชวลิต . (2548). การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร.
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สมโชค เชวงชวลิต . 2548. "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สมโชค เชวงชวลิต . "การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2548. Print. สมโชค เชวงชวลิต . การออกแบบส่วนทดสอบแบบสแกนสำหรับวงจรไปป์ไลน์รหัสรางคู่แบบอสมวาร. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2548.
|
