| ชื่อเรื่อง | : | การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริงโดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ |
| นักวิจัย | : | ธิษณา เพียรเลิศ |
| คำค้น | : | OBJECT-ORIENTED SOFTWARE METRIC , REFACTORING , BAD-SMELL |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2547 |
| อ้างอิง | : | http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082547001231 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอวิธีการตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับซอร์สโค้ด 6 ประเภทคือ Feature Envy, Large Class, Lazy Class, Long Method, Long Parameter Lists และSwitch Statement โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ ซึ่งมาตรวัดที่นำเสนอเหล่านี้ใช้เพื่อช่วยตรวจสอบว่าส่วนใดของโค้ดเป็นร่องรอยที่ไม่ดี และวิธีการนี้ได้เสนอแนะวิธีการรีแฟคทอริง เพื่อแก้ไขร่องรอยที่ไม่ดีที่พบในซอร์สโค้ด จากนั้นทำการประเมินความสามารถของมาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดี โดยเปรียบเทียบค่ามาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดี ก่อนและหลังการประยุกต์ใช้วิธีรีแฟคทอริง ผู้วิจัยได้พัฒนาเครื่องมือสำหรับตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีของซอร์สโค้ดภาษาจาวา โดยคำนวณค่ามาตรวัดร่องรอยที่เกี่ยวข้องกับร่องรอยที่ไม่ดีทั้ง 6 ประเภท ผลการทดสอบพบว่า ค่ามาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดีนั้นดีขึ้น หลังจากประยุกต์ใช้วิธีรีแฟคทอริงแล้ว แสดงให้เห็นว่า มาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดีที่เสนอในงานวิจัยนี้ ช่วยในการตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีได้ |
| บรรณานุกรม | : |
ธิษณา เพียรเลิศ . (2547). การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริงโดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ.
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. ธิษณา เพียรเลิศ . 2547. "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริงโดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. ธิษณา เพียรเลิศ . "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริงโดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2547. Print. ธิษณา เพียรเลิศ . การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริงโดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2547.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
