| ชื่อเรื่อง | : | การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ |
| นักวิจัย | : | ธิษณา เพียรเลิศ |
| คำค้น | : | รีแฟคเตอริ่ง , ซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ |
| หน่วยงาน | : | สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2547 |
| อ้างอิง | : | http://dric.nrct.go.th/Search/SearchDetail/163981 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | - |
| บรรณานุกรม | : |
ธิษณา เพียรเลิศ . (2547). การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,. ธิษณา เพียรเลิศ . 2547. "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,. ธิษณา เพียรเลิศ . "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,, 2547. Print. ธิษณา เพียรเลิศ . การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,; 2547.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
