| ชื่อเรื่อง | : | การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน |
| นักวิจัย | : | ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ |
| คำค้น | : | ซิลิกอนเจอเมเนียม , จุลทรรศน์อิเล็กตรอน , ทรานซิสเตอร์ , แกลเลียมไนไตรท์ , ไอโอดเลเซอร์ |
| หน่วยงาน | : | สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2547 |
| อ้างอิง | : | http://dric.nrct.go.th/Search/SearchDetail/213885 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | - |
| บรรณานุกรม | : |
ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . (2547). การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,. ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . 2547. "การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,. ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . "การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,, 2547. Print. ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,; 2547.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
