| ชื่อเรื่อง | : | การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์ |
| นักวิจัย | : | ศิริไพลิน วังภูงา |
| คำค้น | : | ทอง , วงจรรวม , อุตสาหกรรมสารกึ่งตัวนำ , Gold , Integrated circuits , Semiconductor industry |
| หน่วยงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| ผู้ร่วมงาน | : | ณัฐชา ทวีแสงสกุลไทย , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ |
| ปีพิมพ์ | : | 2555 |
| อ้างอิง | : | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/36627 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555 งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดและควบคุมปัญหาการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมโดยประยุกต์ใช้เทคนิคทางคุณภาพ เริ่มต้นด้วยการจัดตั้งทีมงานในการปรับปรุงคุณภาพเพื่อทำการแก้ไขปัญหาคุณภาพอย่างตรงจุด และมีขั้นตอนการดำเนินการวิจัยประกอบไปด้วย 5 ระยะได้แก่ (I) ระยะการกำหนดปัญหา โดยทำการศึกษาสภาพปัญหาปัจจุบันพบว่ากระบวนการที่พบปัญหามากที่สุดคือ กระบวนการเชื่อมลวดทองคำ โดยมีปัญหาหลักคือการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมเป็นจำนวนมากถึง 47% การวิจัยนี้จึงมุ่งลดและควบคุมปัญหานี้ (II) ระยะการหาสาเหตุหลักของปัญหาโดยใช้แผนผังก้างปลาเพื่อหาสาเหตุหลักที่ส่งผลต่อปัญหาการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมและทำการวิเคราะห์สาเหตุและผลกระทบของสาเหตุหลักของปัญหาที่มีความรุนแรงมากที่สุดมาดำเนินการแก้ไข พบว่าพารามิเตอร์ในการเชื่อมลวดทองคำไม่เหมาะสมและพนักงานขาดทักษะในการปฏิบัติงาน (III) ระยะการหาวิธีการแก้ปัญหาประกอบด้วยการออกแบบการทดลองเพื่อหาค่าที่เหมาะสมของพารามิเตอร์ในการปรับตั้งเครื่องจักรโดยมีตัวแปรตอบสนองคือค่าความแข็งแรงของการยึดติดของเส้นลวด และการสร้างมาตรฐานการปฏิบัติงานในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำ (IV) ระยะการนำวิธีการแก้ปัญหาไปปฏิบัติตามแผนงานที่กำหนดไว้ ดังนี้ (1)กำหนดให้มีค่าปรับตั้งพารามิเตอร์ของเครื่องจักรตามลำดับดังนี้ กำลังในการเชื่อมลวดอยู่ที่ 80 มิลลิแอมป์และแรงในการเชื่อมลวดอยู่ที่ 50 กรัม (2)ฝึกอบรมพนักงานตามมาตรฐานที่จัดทำขึ้นมาใหม่และมีติดตามผลการฝึกอบรมอย่างเป็นระยะ (3) กำหนดแผนควบคุมโดยใช้แผนภูมิควบคุมเพื่อควบคุมค่าความแข็งแรงในการยึดติดของเส้นลวด (V) ระยะการประเมินผลเปอร์เซ็นต์ของเสียการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมก่อนทำการปรับปรุง ระหว่างทำการปรับปรุงและหลังทำการปรับปรุง พบว่าหลังทำการปรับปรุงเปอร์เซ็นต์ของเสียการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมลดลงจาก 9.40% เป็น 2.14% คิดเป็นเปอร์เซ็นต์ของเสียที่ลดลง 7.26% ซึ่งสามารถลดต้นทุนได้ถึง 4.6 ล้านบาทต่อปี |
| บรรณานุกรม | : |
ศิริไพลิน วังภูงา . (2555). การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. ศิริไพลิน วังภูงา . 2555. "การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. ศิริไพลิน วังภูงา . "การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555. Print. ศิริไพลิน วังภูงา . การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2555.
|
