ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์
นักวิจัย : ศิริไพลิน วังภูงา
คำค้น : ทอง , วงจรรวม , อุตสาหกรรมสารกึ่งตัวนำ , Gold , Integrated circuits , Semiconductor industry
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : ณัฐชา ทวีแสงสกุลไทย , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/36627
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดและควบคุมปัญหาการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมโดยประยุกต์ใช้เทคนิคทางคุณภาพ เริ่มต้นด้วยการจัดตั้งทีมงานในการปรับปรุงคุณภาพเพื่อทำการแก้ไขปัญหาคุณภาพอย่างตรงจุด และมีขั้นตอนการดำเนินการวิจัยประกอบไปด้วย 5 ระยะได้แก่ (I) ระยะการกำหนดปัญหา โดยทำการศึกษาสภาพปัญหาปัจจุบันพบว่ากระบวนการที่พบปัญหามากที่สุดคือ กระบวนการเชื่อมลวดทองคำ โดยมีปัญหาหลักคือการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมเป็นจำนวนมากถึง 47% การวิจัยนี้จึงมุ่งลดและควบคุมปัญหานี้ (II) ระยะการหาสาเหตุหลักของปัญหาโดยใช้แผนผังก้างปลาเพื่อหาสาเหตุหลักที่ส่งผลต่อปัญหาการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมและทำการวิเคราะห์สาเหตุและผลกระทบของสาเหตุหลักของปัญหาที่มีความรุนแรงมากที่สุดมาดำเนินการแก้ไข พบว่าพารามิเตอร์ในการเชื่อมลวดทองคำไม่เหมาะสมและพนักงานขาดทักษะในการปฏิบัติงาน (III) ระยะการหาวิธีการแก้ปัญหาประกอบด้วยการออกแบบการทดลองเพื่อหาค่าที่เหมาะสมของพารามิเตอร์ในการปรับตั้งเครื่องจักรโดยมีตัวแปรตอบสนองคือค่าความแข็งแรงของการยึดติดของเส้นลวด และการสร้างมาตรฐานการปฏิบัติงานในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำ (IV) ระยะการนำวิธีการแก้ปัญหาไปปฏิบัติตามแผนงานที่กำหนดไว้ ดังนี้ (1)กำหนดให้มีค่าปรับตั้งพารามิเตอร์ของเครื่องจักรตามลำดับดังนี้ กำลังในการเชื่อมลวดอยู่ที่ 80 มิลลิแอมป์และแรงในการเชื่อมลวดอยู่ที่ 50 กรัม (2)ฝึกอบรมพนักงานตามมาตรฐานที่จัดทำขึ้นมาใหม่และมีติดตามผลการฝึกอบรมอย่างเป็นระยะ (3) กำหนดแผนควบคุมโดยใช้แผนภูมิควบคุมเพื่อควบคุมค่าความแข็งแรงในการยึดติดของเส้นลวด (V) ระยะการประเมินผลเปอร์เซ็นต์ของเสียการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมก่อนทำการปรับปรุง ระหว่างทำการปรับปรุงและหลังทำการปรับปรุง พบว่าหลังทำการปรับปรุงเปอร์เซ็นต์ของเสียการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวมลดลงจาก 9.40% เป็น 2.14% คิดเป็นเปอร์เซ็นต์ของเสียที่ลดลง 7.26% ซึ่งสามารถลดต้นทุนได้ถึง 4.6 ล้านบาทต่อปี

บรรณานุกรม :
ศิริไพลิน วังภูงา . (2555). การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ศิริไพลิน วังภูงา . 2555. "การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ศิริไพลิน วังภูงา . "การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555. Print.
ศิริไพลิน วังภูงา . การลดและควบคุมของเสียของการเชื่อมลวดไม่ติดบนแผงวงจรรวม ในกระบวนการเชื่อมลวดทองคำของโรงงานผลิตเซมิคอนดัคเตอร์. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2555.