ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Gan, Zhenghao
หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore
จำนวนงานวิจัยจำแนกรายปี
บุคคลที่เคยร่วมงานวิจัย
ความเชี่ยวชาญ
บุคคลที่เคยร่วมงานวิจัย
# นักวิจัย ร่วมงาน
1 Mhaisalkar, Subodh Gautam 5
2 Tan, Cher Ming 5
3 Chen, Zhong 5
4 Zhang, Sam 3
5 Prasad, K. 3
6 Shao, W. 2
7 Gusak, A. M. 2
8 Tu, K. N. 2
9 Damayanti, M. 2
10 Jiang, Ning 2
11 Zhang, Guan 2
12 Chen, Z. 1
13 Gao, Xiaofang 1
14 Zaporozhets, T. 1
ปี
# พ.ศ. จำนวน
1 2554 1
2 2550 2
3 2549 3
4 2547 2
5 2546 3
ผลงานวิจัย
# หัวเรื่อง
ปี พ.ศ. 2554
1 Applications of finite element methods for reliability study of ULSI interconnections
ปี พ.ศ. 2550
2 Analytical modeling of reservoir effect on electromigration in Cu interconnects
3 Fracture toughness measurement of thin films on compliant substrate using controlled buckling test
ปี พ.ศ. 2549
4 Modification of Ta/polymeric low-k interface by electron beam treatment
5 Effect of electron beam treatment on adhesion of Ta/polymeric low-k interface
6 Reservoir effect and the role of low current density regions on electromigration lifetimes in copper interconnects
ปี พ.ศ. 2547
7 Dynamic study of the physical processes in the intrinsic line electromigration of deep-submicron copper and aluminum interconnects
8 Study of interfacial adhesion energy of multilayered ULSI thin film structures using four-point bending test
ปี พ.ศ. 2546
9 Temperature and stress distribution in the SOI structure during fabrication
10 Failure mechanisms of aluminum bondpad peeling during thermosonic bonding
11 Nondestructive void size determination in copper metallization under passivation