ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน
นักวิจัย : ธีรนพ สุขอารมณ์
คำค้น : ฮาร์ดดิสก์ , อุปกรณ์หน่วยเก็บ , Hard disks ‪(Computer science)‬ , Computer storage devices
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : ปารเมศ ชุติมา , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/36630
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน ในระหว่างการตรวจสอบคุณภาพก่อนส่งผลิตภัณฑ์ให้ลูกค้า โดยนำวิธีการปรับปรุงกระบวนการผลิตตามแนวทางซิกซ์ ซิกมา มาประยุกต์ใช้เพื่อศึกษาหาปัจจัยที่มีอิทธิพลต่อจำนวนการกระตุกของสัญญาณภายหลังการอ่านสัญญาณกลับ และหาเงื่อนไขที่เหมาะสมของปัจจัยดังกล่าวในกระบวนการผลิตที่จะทำให้ผลกระทบทางด้านการกระตุกของสัญญาณภายหลังการอ่านสัญญาณกลับลดลง โดยมีเป้าหมายในการปรับปรุงให้ลดลงต่ำกว่า 300 DPPM ผลของงานวิจัยที่ทำการศึกษาพบว่า ในส่วนของปัจจัยนำเข้าแบบแปรผัน เมื่อกำหนดระดับความต่างของสัญญาณในระหว่างการทดสอบที่ 43 DAC ความถี่ในการเขียนสัญญาณที่ 4T (125 เมกะเฮิรตซ์) และอุณหภูมิในระหว่างการทดสอบที่ 32 องศาเซลเซียส พร้อมกับทางด้านปัจจัยแบบคุณลักษณะที่กำหนดให้มีการระบุตำแหน่งของร่องรอยความบกพร่องบนแผ่นเก็บข้อมูลก่อนการทดสอบอ่าน/เขียน จึงทำให้จำนวนการกระตุกของสัญญาณภายหลังการอ่านสัญญาณกลับ มีค่าลดลงตามเป้าหมาย และเมื่อนำผลิตภัณฑ์ฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟภายหลังการปรับปรุงกระบวนการดังกล่าวเข้าสู่กระบวนการตรวจสอบคุณภาพภายหลังการผลิต พบว่าผลิตภัณฑ์มีค่า DPPM ก่อนการปรับปรุงจาก 633 DPPM ลดลงเหลือ 287 DPPM คิดเป็น 54.67% ที่ลดลง และคาดการณ์ว่ามูลค่าต้นทุนความสูญเสียรวมจะลดลงประมาณ 11,805,505 บาทต่อปี

บรรณานุกรม :
ธีรนพ สุขอารมณ์ . (2555). การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ธีรนพ สุขอารมณ์ . 2555. "การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ธีรนพ สุขอารมณ์ . "การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555. Print.
ธีรนพ สุขอารมณ์ . การปรับปรุงกระบวนการทดสอบฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อลดข้อบกพร่องประเภทการอ่าน/เขียนสัญญาณบกพร่องของหัวอ่าน/เขียน. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2555.