ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น
นักวิจัย : ฉันทัช ลักษณานันท์
คำค้น : -
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ , โอฬาร กิตติธีรพรชัย
ปีพิมพ์ : 2557
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/46200
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557

ในช่วงทศวรรษที่ผ่านมา อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ต่างๆไม่ว่าจะเป็นโทรศัพท์มือถือหรือกล้องถ่ายรูปดิจิตอลนั้น กลายเป็นส่วนหนึ่งที่ผู้อุปโภคใช้กันอย่างแพร่หลายในชีวิตประจำวัน ส่วนประกอบหนึ่งที่จะช่วยให้อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์เหล่านี้มีขนาดเล็ก บาง และมีฟังก์ชั่นการทำงานที่หลากหลาย คือแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น โดยการประกอบอุปกรณ์ทางไฟฟ้าต่างๆบนพื้นผิวที่มีความยืดหยุ่นด้วยการใช้กระบวนการประกอบพิเศษที่มีเทคโนโลยีและความแม่นยำสูงเรียกว่า Surface Mount Technology (SMT) ซึ่งในกระบวนการ SMT นั้น มีข้อบกพร่องที่สำคัญและทำให้เกิดของเสียที่ไม่สามารถนำมาแก้ไขได้คือ คราบของสารบัดกรีเปื้อนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่นคิดเป็น 520 PPM ของผลิตภัณฑ์ทั้งหมดที่ผลิต ดังนั้นจึงได้มีการใช้เทคนิคต่างๆ เพื่อหาสาเหตุของการเกิดข้อบกพร่อง พบว่าขั้นตอนการทำความสะอาดของเครื่องพิมพ์สารบัดกรีเป็นหนึ่งในสาเหตุหลักของการเกิดข้อบกพร่องนี้ หลังจากนำแนวคิดของซิกซ์ ซิกมามาใช้ในการปรับปรุงกระบวนการ ซึ่งสัดส่วนข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีเปื้อนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่นได้ถูกเลือกเป็นค่าตอบสนองหลักของการทดสอบสมมติฐานและการออกแบบการทดลอง การกำหนดค่าพารามิเตอร์ที่แนะนำในการทำความสะอาดด้วยใช้การออกแบบการทดลองแบบเชิงแฟคทอเรียล สองระดับปัจจัยที่มีสองการทดลองซ้ำ โดยพารามิเตอร์ที่แนะนำคือ การเช็ดทำความสะอาดด้วยทิศทางเดียวกัน ที่ความเร็วในการเช็ด 80 มิลลิเมตรต่อวินาทีโดยไม่ต้องเปิดใช้แรงดูดสูญญากาศ ผลที่ได้จากการเริ่มใช้พารามิเตอร์นี้แสดงให้เห็นว่ามีข้อบกพร่องจะลดลงเหลือ 250 PPM หรือลดลงร้อยละ 51.92 จากกระบวนการเดิมก่อนการปรับปรุง และมูลค่าความเสียหายต่อชิ้นลดลงจาก 17.21 บาท เหลือ 10.94 บาท

บรรณานุกรม :
ฉันทัช ลักษณานันท์ . (2557). การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ฉันทัช ลักษณานันท์ . 2557. "การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ฉันทัช ลักษณานันท์ . "การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557. Print.
ฉันทัช ลักษณานันท์ . การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2557.