| ชื่อเรื่อง | : | การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก |
| นักวิจัย | : | หทัยนันท์ ตาลเจริญ |
| คำค้น | : | - |
| หน่วยงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| ผู้ร่วมงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะครุศาสตร์ , อรจรีย์ ณ ตะกั่วทุ่ง , สิริพันธุ์ สุวรรณมรรคา |
| ปีพิมพ์ | : | 2557 |
| อ้างอิง | : | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/45889 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | การวิจัยครั้งนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก โดย 1) ศึกษาองค์ประกอบของความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาจากผู้เชี่ยวชาญทางเทคโนโลยีการศึกษา จำนวน 10 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 2) สร้างแบบวัดความถนัดแล้วตรวจสอบความตรงเชิงเนื้อหาโดยผู้เชี่ยวชาญ 8 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 3) นำแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาไปทดสอบกับนิสิตนักศึกษา คณะครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ จำนวน 600 คน เพื่อวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน 4) ตรวจสอบความตรงตามโครงสร้างชนิดความตรงเชิงจำแนก ด้วยวิธี Known Group Technique กับนิสิตนักศึกเทคโนโลยีการศึกษาปี 4 จำนวน 240 คน และ นิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 จำนวน 80 คน และ 5) สร้างปกติวิสัย ผลการวิจัยพบว่า 1. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก ประกอบด้วยแบบทดสอบย่อยจำนวน 9 ชุดตามองค์ประกอบความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา คือ 1) ความถนัดทางทัศนศิลป์ 2) ความถนัดด้านการออกแบบทางเทคโนโลยีการศึกษา 3) ความถนัดด้านการพัฒนาทางเทคโนโลยีการศึกษา 4) ความถนัดด้านการใช้และการแพร่กระจายนวัตกรรมการศึกษา 5) ความถนัดด้านการจัดการทางเทคโนโลยีการศึกษา 6) ความถนัดด้านการบริการทางเทคโนโลยีการศึกษา 7) ความถนัดด้านการวิจัยทางเทคโนโลยีการศึกษา 8) ความถนัดด้านการฝึกอบรมทางเทคโนโลยีการศึกษา และ 9) ความถนัดด้านการประเมินทางเทคโนโลยีการศึกษา ตามลำดับ จากการวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน พบว่า แบบวัดความถนัดทั้งฉบับมีความสอดคล้องกับความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา 2. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาฉบับที่ผู้วิจัยสร้างนี้ค่าดัชนีความสอดคล้องตามความคิดเห็นของผู้เชี่ยวชาญที่ระดับ 1.00 และผลจากวิธี Known Group Technique พบว่านิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 มีคะแนนเฉลี่ยความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในทุกด้านสูงกว่านิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 แสดงว่ามีความตรงตามโครงสร้าง (เชิงจำแนก) สำหรับค่าสัมประสิทธิ์ความเที่ยงแบบความสอดคล้องภายในของแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาทั้งฉบับมีค่า .650 3. ปกติวิสัยมี 3 กลุ่ม คือ นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี 1 และนิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 โดยแสดงในตารางซึ่งบอกความสัมพันธ์ระหว่างคะแนนดิบ (raw score) เปอร์เซนไทล์ (percentile) และคะแนนทีปกติ (normalized T-score) ที่แปลงมาจากคะแนนดิบ โดยในแต่ละกลุ่มแยกเป็นความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในแต่ละด้านและโดยรวม วิทยานิพนธ์ (ค.ด.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557 |
| บรรณานุกรม | : |
หทัยนันท์ ตาลเจริญ . (2557). การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. หทัยนันท์ ตาลเจริญ . 2557. "การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. หทัยนันท์ ตาลเจริญ . "การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557. Print. หทัยนันท์ ตาลเจริญ . การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2557.
|
