| ชื่อเรื่อง | : | ต้นแบบการลอกชั้นของชิปไอซี |
| นักวิจัย | : | ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย |
| คำค้น | : | IC deprocess , การลอกชั้น IC delayer , ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ |
| หน่วยงาน | : | สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2551 |
| อ้างอิง | : | http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/10603 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | ชิปไอซีที่มีข้อบกพร่องแต่ไม่สามารถมองเห็นบนผิวหน้าชิปได้ หรือมองเห็นแต่ไม่ชัด การลอกชั้นด้านบนของชิปออก จะสามารถทำให้มองเห็นข้อบกพร่องได้ชัดขึ้น When IC fault but can not found the defect on chip surface or not clear image, IC delayer process can help to remove the top layer for get the clear image of defect. |
| บรรณานุกรม | : |
ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . (2551). ต้นแบบการลอกชั้นของชิปไอซี.
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . 2551. "ต้นแบบการลอกชั้นของชิปไอซี".
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . "ต้นแบบการลอกชั้นของชิปไอซี."
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2551. Print. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . ต้นแบบการลอกชั้นของชิปไอซี. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2551.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
