| ชื่อเรื่อง | : | กระบวนการเปิดหน้าชิป IC |
| นักวิจัย | : | ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย |
| คำค้น | : | Decapsulation , IC , การเปิดหน้าชิปไอซี , ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ |
| หน่วยงาน | : | สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2551 |
| อ้างอิง | : | http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/10600 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | ในกรณีที่ต้องการเปิดหน้าชิปไอซีเพื่อทำการหาจุดบกพร่องบนชิปนั้น การกัดสารห่อหุ้มด้วยกรดเข้มข้นนั้นเป็นวิธีการที่นิยมใช้กัน ซึ่งตัวงานไอซีแต่ละชนิดจะมีโครงสร้างและสารประกอบที่ใช้ห่อหุ้มชิปไอซีนั้นไม่เหมือนกัน ซึ่งส่งผลให้สูตรสารเคมีและวิธีการที่เหมาะสมในการกัดสารประกอบแต่ละชนิดนั้นแตกต่างกันไปด้วย IC decapsulation for failure analysis, Acid etching is the popular technique. Each of IC have a different structure and ICs coated which effect to different of decapsulation technique. |
| บรรณานุกรม | : |
ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . (2551). กระบวนการเปิดหน้าชิป IC.
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . 2551. "กระบวนการเปิดหน้าชิป IC".
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . "กระบวนการเปิดหน้าชิป IC."
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2551. Print. ชาญเดช หรูอนันต์ , ณัฐพัชร์ ธรณ์ญาณาเดชา , ธงชัย ธงวิจิตรมณี , นิภาพรรณ กลั่นเงิน , อัมพร โพธิ์ใย . กระบวนการเปิดหน้าชิป IC. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2551.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
