วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2545

วัตถุประสงค์ในงานวิจัยเพื่อลดปัญหาการสูญเสียวัตถุดิบในการผลิตของผลิตภัณฑ์แผงวงจรรวม (ไอซี) เฉพาะกลุ่มผลิตภัณฑ์สมัยใหม่ โดยมีขอบเขตการศึกษาเพียงสองผลิตภัณฑ์ในกลุ่ม การสูญเสียของวัตถุดิบในงานวิจัยนี้ได้ประเมินออกมาในรูปของผลรวมมูลค่าโดยเฉลี่ยของจำนวนแพดที่เหลือบนสตริปและมูลค่าสตริป ดัมมี่ที่ต้องใช้เพิ่มต่อคำสั่งผลิต โดยการทดลองแบ่งออกเป็น 3 การทดลองได้แก่ การทดลองที่ 1 ทดสอบเปลี่ยนค่าขนาดล็อตในการผลิตเพียงอย่างเดียว การทดลองที่ 2 ทดสอบเปลี่ยนทั้งค่าจำนวนแพดต่อสตริปและค่าขนาดล็อตในการผลิต และ การทดลองที่ 3 ทดสอบการโหลดงานแบบโหลดทั้งคำสั่งผลิตเพียงครั้งเดียวและแบบแบ่งการโหลดหลายๆครั้ง หลักการที่ใช้ในการทดลองที่ 1 และ 3 ใช้วิธีประเมินทุกทางเลือก ส่วนการทดลองที่ 2 ใช้หลักการหาค่าที่เหมาะสมสำหรับแบบจำลองโดยใช้กลไกหาคำตอบของเจเนติกอัลกอริทึมและการสุ่มเลือกคำตอบ จากการวิจัยพบว่ามีคำตอบที่เป็นไปได้ที่ช่วยลดมูลค่าการสูญเสียวัตถุดิบโดยเฉลี่ยคือ การทดลองที่ 1 ผลิตภัณฑ์ A ขนาดล็อตในการผลิตเท่ากับ 8712 ได/ล็อต มีมูลค่าการสูญเสียวัตถุดิบต่ำกว่าปัจจุบัน 3.4366 % ผลิตภัณฑ์ B ขนาดล็อตในการผลิตเท่ากับ 6384 ได/ล็อต มีมูลค่าการสูญเสียวัตถุดิบต่ำกว่าปัจจุบัน 2.3392% การทดลองที่ 2 ผลิตภัณฑ์ A จำนวนแพดต่อสตริป เท่ากับ 596 และขนาดล็อตเท่ากับ 9536 ได/ล็อต มีมูลค่าการสูญเสียวัตถุดิบต่ำกว่าปัจจุบัน 4.8958% ผลิตภัณฑ์ B จำนวนแพดต่อสตริป เท่ากับ 212 และขนาดล็อตเท่ากับ 5088 ได/ล็อต มีมูลค่าการสูญเสียวัตถุดิบต่ำกว่าปัจจุบัน 2.1504% นอกจากนี้ ในการทดลองที่ 2 ยังพบว่าเจเนติกอัลกอริทึมหาคำตอบได้ดีกว่าการสุ่มเลือกคำตอบ ส่วนการทดลองที่ 3 พบว่าการโหลดงานแบบครั้งเดียวกับแบบแบ่งโหลดหลายครั้งสำหรับแต่ละคำสั่งผลิต ไม่แตกต่างกันที่ระดับความเชื่อมั่น 95 เปอร์เซ็นต์