ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy.

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy.
นักวิจัย : Wong, Lydia Helena.
คำค้น : DRNTU::Engineering::Materials::Photonics and optoelectronics materials.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2550
อ้างอิง : Wong, L. H. (2007). Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy. Doctoral thesis, Nanyang Technological University, Singapore. , http://hdl.handle.net/10356/35953
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

Heteroepitaxy of lattice-mismatched materials are important for both optoelectronic and microelectronic applications. Within the community of research in heteroepitaxy, the long-standing goal is to obtain strain relaxation while minimizing the generation of defects which often leads to device degradation.

163 p.

บรรณานุกรม :
Wong, Lydia Helena. . (2550). Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy..
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Wong, Lydia Helena. . 2550. "Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy.".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Wong, Lydia Helena. . "Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy.."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2550. Print.
Wong, Lydia Helena. . Strain relaxation in SiGe/Si heteroepitaxy.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2550.