| ชื่อเรื่อง | : | Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix. |
| นักวิจัย | : | Liu, Yang. |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Nanoelectronics. |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2548 |
| อ้างอิง | : | Liu, Y. (2005). Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix. Doctoral thesis, Nanyang Technological University, Singapore. , http://hdl.handle.net/10356/4750 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | In this thesis, we have synthesized Si nanocrystals (nc-Si) embedded in SiO2 films by implanting Si+ into SiO2 films that are thermally grown on Si substrates. |
| บรรณานุกรม | : |
Liu, Yang. . (2548). Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix..
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Liu, Yang. . 2548. "Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Liu, Yang. . "Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2548. Print. Liu, Yang. . Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2548.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
