| ชื่อเรื่อง | : | High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials |
| นักวิจัย | : | Lim, Ying Ying |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Electronic packaging |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2548 |
| อ้างอิง | : | Lim, Y. Y. (2005). High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials. Master’s thesis, Nanyang Technological University, Singapore. , http://hdl.handle.net/10356/4699 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | This thesis summarizes the purpose and milestones covered in the process of carrying out the project. Essentially, the project proposes to develop and implement a suitable method to measure the complex permittivity of thin (l-3mm) packaging materials used in the microelectronics industry. Apart from being able to measure over a large bandwidth from 0.1 -20 GHz and be relatively low cost and easy to implement, the technique also has to be reasonably accurate as compared to other available methods. |
| บรรณานุกรม | : |
Lim, Ying Ying . (2548). High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Lim, Ying Ying . 2548. "High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Lim, Ying Ying . "High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2548. Print. Lim, Ying Ying . High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2548.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
