ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter
นักวิจัย : Tan, Cher Ming , Yu, Wen Zhi
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2557
อ้างอิง : Tan, C. M., & Yu, W. Z. (2014). Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter. Microelectronics Reliability, 54(5), 960-964. , 0026-2714 , http://hdl.handle.net/10220/19346 , http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2014.01.009 , 178878
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Microelectronics reliability
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this work, we employ a circuit simulation tool to investigate the signature of the change in S-parameters curves with the degradation of PIN limiter circuit parameters. Unique correlations can be established for all the circuit parameters, and this provides a good way to identify possible failure sites before destructive physical analysis of the degraded limiters.

บรรณานุกรม :
Tan, Cher Ming , Yu, Wen Zhi . (2557). Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Tan, Cher Ming , Yu, Wen Zhi . 2557. "Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Tan, Cher Ming , Yu, Wen Zhi . "Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2557. Print.
Tan, Cher Ming , Yu, Wen Zhi . Damage threshold determination and non-destructive identification of possible failure sites in PIN limiter. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2557.