| ชื่อเรื่อง | : | Correlation between oxide trap generation and negative-bias temperature instability. |
| นักวิจัย | : | Boo, A. A. , Ang, Diing Shenp , Teo, Z. Q. , Leong, K. C. |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering. |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2555 |
| อ้างอิง | : | http://hdl.handle.net/10220/11335 , http://dx.doi.org/10.1109/LED.2012.2185481 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | IEEE electron device letters |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | Evidence shows that substantial interface degradation under negative-bias temperature (NBT) stressing does not result in any apparent oxide trap generation. The link between NBT instability and oxide trap generation is actually found in the recoverable hole-trapping component (R) of the former. When R is constant, independent of the number of stress/relaxation cycles, no apparent oxide trap generation is observed in spite of nonnegligible interface degradation. However, when oxide trap generation occurs, a correlated decrease of R is observed. Analysis shows that the generated oxide traps are due to a portion of the trapped holes being transformed into a more permanent form. A possible explanation based on the oxygen vacancy defect is given. |
| บรรณานุกรม | : |
Boo, A. A. , Ang, Diing Shenp , Teo, Z. Q. , Leong, K. C. . (2555). Correlation between oxide trap generation and negative-bias temperature instability..
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Boo, A. A. , Ang, Diing Shenp , Teo, Z. Q. , Leong, K. C. . 2555. "Correlation between oxide trap generation and negative-bias temperature instability.".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Boo, A. A. , Ang, Diing Shenp , Teo, Z. Q. , Leong, K. C. . "Correlation between oxide trap generation and negative-bias temperature instability.."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print. Boo, A. A. , Ang, Diing Shenp , Teo, Z. Q. , Leong, K. C. . Correlation between oxide trap generation and negative-bias temperature instability.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
