| ชื่อเรื่อง | : | X-ray diffraction, rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials |
| นักวิจัย | : | Dong, Zhili |
| คำค้น | : | - |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2552 |
| อ้างอิง | : | Dong, Z. L. (2009). X-ray diffraction, Rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials. Handbook of Nanoceramics and Their Based Nanodevices (pp. 303-336). USA: American Scientific Publishers. , http://hdl.handle.net/10220/9215 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | Handbook of nanoceramics and their based nanodevices |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | Abstract not available. |
| บรรณานุกรม | : |
Dong, Zhili . (2552). X-ray diffraction, rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Dong, Zhili . 2552. "X-ray diffraction, rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Dong, Zhili . "X-ray diffraction, rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2552. Print. Dong, Zhili . X-ray diffraction, rietveld crystal structure refinement and high-resolution transmission electron microscopy of nano-structured materials. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2552.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
