| ชื่อเรื่อง | : | A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS |
| นักวิจัย | : | Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chan, Lye Hock , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh , Chew, Kok Wai Johnny |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Integrated circuits. |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2552 |
| อ้างอิง | : | Ong, S. N., Yeo, K. S., Chan, L. H., Loo, X. S., Boon, C. C., Do, M. A., et al. (2009). A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS. IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology, Singapore, 280-283. , http://hdl.handle.net/10220/6349 , http://dx.doi.org/10.1109/RFIT.2009.5383701 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | A new unified model for circuit simulation is presented to predict the high frequency channel thermal noise of deep sub-micron MOSFETs in strong inversion region. Based on the new channel thermal noise model, the simulated channel thermal noise spectral densities of the devices fabricated in a 0.13μm RFCMOS technology process are compared to the channel noise directly extracted from RF noise measurements. |
| บรรณานุกรม | : |
Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chan, Lye Hock , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh , Chew, Kok Wai Johnny . (2552). A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chan, Lye Hock , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh , Chew, Kok Wai Johnny . 2552. "A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chan, Lye Hock , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh , Chew, Kok Wai Johnny . "A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2552. Print. Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chan, Lye Hock , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh , Chew, Kok Wai Johnny . A new unified model for channel thermal noise of deep sub-micron RFCMOS. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2552.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
