ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ

หน่วยงาน ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ
นักวิจัย : สุนิดา อวิโรธนานนท์
คำค้น : QUANTUM WELL INTERMIXING , PHOTOLUMINESCENCE TECHNIQUES , RESIDUAL DAMAGE , ABSORPTION MEASUREMENT , InGaAs , InP , TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE , DIFFUSION COEFFICIENTS
หน่วยงาน : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2544
อ้างอิง : http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082544001691
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

ประยุกต์วิธีการผสมระหว่างบ่อศักย์ควอนตัม (GWl) กับโครงสร้างบ่อศักย์ (QW)lnGaAs/lnP เป็นเรื่องสนใจมุ่งเน้นวิจัยจากมุมมองศักยภาพวงจรรวมด้านแสงสำหรับการสื่อสารทางไกล ในช่วงคลื่น 1.3-1.6(+,m)m ด้วยต้นทุนการผลิตต่ำ ในงานนี้ศึกษาถึงสองวิธีการของ QWl: QWl ฝังไอออนวิวิธของบ่อศักย์ และ QWlโดยการปลูกความบกพร่อง ทั้งสองวิธีมุ่งเน้นที่ความบกพร่องที่สร้างแบบคัดเลือกบริเวณในสารตัวอย่างเพื่อเพิ่มการแพร่สู่กันของวัสดุระหว่างกระบวนการอบด้วยความร้อนแบบรวดเร็วการศึกษาถึงความเหมาะสมของ QWl ในแต่ละวิธีการที่ขึ้นกับสองปัจจัยหลัก 1. ความสามารถคาดการณ์ถึงการเลื่อนของแถบพลังงานนำสู่การควบคุมสภาพการทดลองสำหรับวัสดุในวงกว้าง 2. คุณภาพด้านแสงของชั้นภายหลังการวิวิธบ่อศักย์ งานส่วนแรก เปรียบเทียบผลการวัดการดูดกลืนกับผลการคำนวณที่ได้จากแบบจำลอง ของวิวิธบ่อศักย์ การหาความต่างของระยะการแพร่ของอะตอมกลุ่ม V และกลุ่ม III (k=+,Dv/(+,D)III) ของk=4 เกิดจากแลตทิชคู่เหมาะสม (LM) และบ่อศักย์ความเครียดดึงผสมกับความบกพร่องจากการปลูกวิวิธบ่อศักย์ ขณะที่ k=(+,ฅ) พบใน LM สารตัวอย่างบ่อศักย์ผสม โดยฝังไอออนวิวิธบ่อศักย์ ข้อมูลนี้มีความสำคัญต่อการสร้างแบบจำลองเพื่อการคาดการณ์การเลื่อนแถบช่องว่าง ส่วนที่สองของงาน วัดช่วงอายุพาหะของสารตัวอย่างที่เตรียมและสารตัวอย่างที่แพร่ผสมแล้วที่อุณหภูมิต่างๆ กัน พบว่าช่วงอายุพาหะในสารตัวอย่างที่แพร่ผสมแล้วมีความไวต่อการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิมากกว่า บ่งชี้ถึงการเกิดจุดบกพร่องการรวมตัวที่ไม่แปลงแสง

บรรณานุกรม :
สุนิดา อวิโรธนานนท์ . (2544). สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ.
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
สุนิดา อวิโรธนานนท์ . 2544. "สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ".
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
สุนิดา อวิโรธนานนท์ . "สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ."
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2544. Print.
สุนิดา อวิโรธนานนท์ . สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2544.