| ชื่อเรื่อง | : | สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ |
| นักวิจัย | : | สุนิดา อวิโรธนานนท์ |
| คำค้น | : | QUANTUM WELL INTERMIXING , PHOTOLUMINESCENCE TECHNIQUES , RESIDUAL DAMAGE , ABSORPTION MEASUREMENT , InGaAs , InP , TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE , DIFFUSION COEFFICIENTS |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2544 |
| อ้างอิง | : | http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082544001691 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | ประยุกต์วิธีการผสมระหว่างบ่อศักย์ควอนตัม (GWl) กับโครงสร้างบ่อศักย์ (QW)lnGaAs/lnP เป็นเรื่องสนใจมุ่งเน้นวิจัยจากมุมมองศักยภาพวงจรรวมด้านแสงสำหรับการสื่อสารทางไกล ในช่วงคลื่น 1.3-1.6(+,m)m ด้วยต้นทุนการผลิตต่ำ ในงานนี้ศึกษาถึงสองวิธีการของ QWl: QWl ฝังไอออนวิวิธของบ่อศักย์ และ QWlโดยการปลูกความบกพร่อง ทั้งสองวิธีมุ่งเน้นที่ความบกพร่องที่สร้างแบบคัดเลือกบริเวณในสารตัวอย่างเพื่อเพิ่มการแพร่สู่กันของวัสดุระหว่างกระบวนการอบด้วยความร้อนแบบรวดเร็วการศึกษาถึงความเหมาะสมของ QWl ในแต่ละวิธีการที่ขึ้นกับสองปัจจัยหลัก 1. ความสามารถคาดการณ์ถึงการเลื่อนของแถบพลังงานนำสู่การควบคุมสภาพการทดลองสำหรับวัสดุในวงกว้าง 2. คุณภาพด้านแสงของชั้นภายหลังการวิวิธบ่อศักย์ งานส่วนแรก เปรียบเทียบผลการวัดการดูดกลืนกับผลการคำนวณที่ได้จากแบบจำลอง ของวิวิธบ่อศักย์ การหาความต่างของระยะการแพร่ของอะตอมกลุ่ม V และกลุ่ม III (k=+,Dv/(+,D)III) ของk=4 เกิดจากแลตทิชคู่เหมาะสม (LM) และบ่อศักย์ความเครียดดึงผสมกับความบกพร่องจากการปลูกวิวิธบ่อศักย์ ขณะที่ k=(+,ฅ) พบใน LM สารตัวอย่างบ่อศักย์ผสม โดยฝังไอออนวิวิธบ่อศักย์ ข้อมูลนี้มีความสำคัญต่อการสร้างแบบจำลองเพื่อการคาดการณ์การเลื่อนแถบช่องว่าง ส่วนที่สองของงาน วัดช่วงอายุพาหะของสารตัวอย่างที่เตรียมและสารตัวอย่างที่แพร่ผสมแล้วที่อุณหภูมิต่างๆ กัน พบว่าช่วงอายุพาหะในสารตัวอย่างที่แพร่ผสมแล้วมีความไวต่อการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิมากกว่า บ่งชี้ถึงการเกิดจุดบกพร่องการรวมตัวที่ไม่แปลงแสง |
| บรรณานุกรม | : |
สุนิดา อวิโรธนานนท์ . (2544). สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ.
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สุนิดา อวิโรธนานนท์ . 2544. "สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สุนิดา อวิโรธนานนท์ . "สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2544. Print. สุนิดา อวิโรธนานนท์ . สัมประสิทธิ์การแพร่ผสมและความเสียหายตกค้างในวัสดุ lnGaAs/lnP โครงสร้างวิวิธของส่วนผสมและความเครียดต่างๆ. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2544.
|
