ได้เตรียม และศึกษากระบวนการนำไฟฟ้าผ่านรอยต่อของเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดฟิล์มบางที่มีโครงสร้างแบบ Mo/Cu(ln,Ga)Se(,2)/CdS/ZnO โดยการวัดลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ไฟฟ้า ทั้งแบบที่วัดในที่มืดและแบบที่ฉายแสงที่อุณหภูมิคงที่ที่อุณหภูมิห้องและที่ขึ้นกับอุณหภูมิ จากการวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ไฟฟ้าที่อุณหภูมิห้อง ได้ค่าแฟคเตอร์อุดมคติของไดโอด ความต้านทานอนุกรม และความหนาแน่นกระแสอิ่มตัวสอดคล้องกับกระบวนการนำไฟฟ้าผ่านรอยต่อของไดโอดทั่วไปที่มีกระบวนการรวมตัวในบริเวณปลอดพาหะแบบ Shockley-Read-Hall (SRH) การวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ที่ขึ้นกับอุณหภูมิพบว่านอกจากกระบวนการแบบการรวมตัว การทะลุผ่านได้มีบทบาทร่วมในกระบวนการนำไฟฟ้าผ่านรอยต่อที่อุณหภูมิต่ำด้วย การศึกษาผลของปริมาณสารเจือในชั้นกันชน(CdS) และผลของความเข้มแสงที่มีต่อลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ของเซลล์แสงอาทิตย์ที่ประดิษฐ์ขึ้น จากการวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ไฟฟ้าในสภาวะต่างๆกันนี้ สามารถนำมาอธิบายกลไกการนำไฟฟ้าผ่านรอยต่อ และเขียนลักษณะแถบพลังงานที่เป็นไปได้สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดฟิล์มบางที่มีโครงสร้างแบบ Mo/Cu(ln,Ga)Se(,2)/CdS/ZnO