| ชื่อเรื่อง | : | การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน |
| นักวิจัย | : | วิชชา เฟื่องจันทร์ |
| คำค้น | : | DESIGN OF TEST MODULE , BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE , MICROCONTROLLER , HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGES , SIMULATION |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2544 |
| อ้างอิง | : | http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082544000315 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์นี้เสนอการออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรม บาวน์ดารี สแกน โดยใช้ภาษาวีเอชดีแอล (VHDL) ซึ่งเป็นภาษาอธิบายฮาร์ดแวร์ (HDL : Hardward Description Languages) โดยออกแบบวงจรในระดับพฤติกรรม (behavioral level) และในระดับโครงสร้าง (structural level) เพื่อทดสอบการเชื่อมต่อ และทดสอบฟังก์ชั่นการทำงาน ของแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ โดยออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบและสร้างข้อมูลทดสอบ (test data) เพื่อใช้ทดสอบหาความผิดพร่อง (fault)ที่จะเกิดขึ้น โดยกระบวนการทดสอบที่ออกแบบมาเพื่อใช้ทดสอบ จะขึ้นอยู่กับความเหมาะสมและเป้าหมายในการทดสอบ โดยทดสอบด้วยวิธีการจำลองการทำงาน (simulation) และวิเคราะห์ผลด้วยโปรแกรมที่พัฒนาขึ้นมาโดยเฉพาะ |
| บรรณานุกรม | : |
วิชชา เฟื่องจันทร์ . (2544). การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน.
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. วิชชา เฟื่องจันทร์ . 2544. "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. วิชชา เฟื่องจันทร์ . "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2544. Print. วิชชา เฟื่องจันทร์ . การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2544.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
