ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ

หน่วยงาน ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ
นักวิจัย : ธีระพนธ์ แย้มวงษ์
คำค้น : PIEZOELECTRIC , PIEZOELECTRIC COEFFICIENT , POLYVYNILIDENEFLUORIDE
หน่วยงาน : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2536
อ้างอิง : http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082536000105
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

ในงานวิจัยนี้ ได้สร้างเครื่องมือเพื่อวัดค่าสัมประสิทธิ์เพียสโซอิเล็กตริก d(,31) แบบกระแสสลับของแผ่นฟิล์ม PVDF ที่ความถี่ 10 Hz โดยเครื่องมือนี้จะประกอบไปด้วยส่วนสำคัญ 2 ส่วนคือ ส่วนของขดลวดเคลื่อนที่ซึ่งทำหน้าที่ให้แรงกระทำแบบรูปไซน์กับแผ่นฟิล์ม และส่วนของวงจรอิเล็กทรอนิกส์ ซึ่งทำหน้าที่ช่วยในการวัดค่าสัญญาณทางไฟฟ้าที่เกิดขึ้นกับแผ่นฟิล์มเมื่อให้แรงกระทำกับแผ่นฟิล์ม PVDF นี้ สำหรับวิธีการวัดนั้น ในงานวิจัยนี้จะใช้ 2 วิธีด้วยกันคือ วิธีแรก จะใช้แผ่นฟิล์ม PVDF สองแผ่นต่ออนุกรมกันในการวัด โดยแผ่นหนึ่งเป็นฟิล์มซึ่งทราบค่า d(,31) จากการวัดแบบกระแสตรง ฟิล์มแผ่นนี้จะใช้ประจำเป็นแผ่นอ้างอิง ส่วนอีกแผ่นจะเป็นแผ่นที่จะทำการวัดค่า d(,31)โดยเมื่อเริ่มทำการวัดจะให้กระแสกับขดลวดเคลื่อนที่ค่าหนึ่ง ซึ่งทำให้เกิดความต่างศักย์ (rms) ที่แผ่น PVDF อ้างอิงเท่ากับ 0.800 โวลท์ แล้ววัดค่าความต่างศักย์ที่เกิดขึ้นที่แผ่นฟิล์ม PVDF อีกแผ่น จากนั้นนำค่าที่ได้มาคำนวณหาค่า d(,31) ของฟิล์มนี้ วิธีที่สอง จะใช้แผ่นฟิล์ม PVDF เพียงแผ่นเดียวโดยในตอนแรกจะนำแผ่นฟิล์มอ้างอิงมาทำการวัดค่าความต่างศักย์ที่เกิดขึ้นเมื่อใส่กระแสไฟฟ้า0.750 แอมแปร์ (rms) ให้กับขดลวดเคลื่อนที่ นำค่าความต่างศักย์ที่วัดได้นี้ไปคำนวณหาค่าแรงที่กระทำต่อฟิล์ม หลังจากนั้นนำแผ่นฟิล์ม PVDF ที่จะ วัดค่าd(,31) มาทำการวัดโดยใส่กระแสไฟฟ้าขนาด 0.750 A ให้กับขดลวดเคลื่อนที่ แล้ววัดค่าความต่างศักย์ที่เกิดขึ้นที่แผ่นฟิล์มนี้ นำค่าความต่างศักย์ที่ได้และค่าแรงที่คำนวณได้จากแผ่นอ้างอิงไปคำนวณหาค่า d(,31) ต่อไป

บรรณานุกรม :
ธีระพนธ์ แย้มวงษ์ . (2536). การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ.
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
ธีระพนธ์ แย้มวงษ์ . 2536. "การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ".
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
ธีระพนธ์ แย้มวงษ์ . "การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ."
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2536. Print.
ธีระพนธ์ แย้มวงษ์ . การวัดสัมประสิทธิ์ของแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ที่ความถี่ต่ำ. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2536.