| ชื่อเรื่อง | : | การตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ ในขบวนการผลิต |
| นักวิจัย | : | สมชาย มานะพากเพียรกิจ |
| คำค้น | : | การตรวจจับจุดบกพร่อง , การตรวจจับ , อิเมธกราเดียน , กล้องไลน์สแกน , จุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ , DEFECT DETECTION , INSPECTION , IMAGE GRADIENT , LINE SCAN CAMERA , PAPER DEFECT |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2544 |
| อ้างอิง | : | http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1711 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | ในขบวนการผลิตกระดาษ จุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษโดยทั่วไปสามารถตรวจจับ ได้ด้วยสายตามนุษย์ในขณะที่การผลิตกำลังดำเนินการอยู่ เพื่อระบุตำแหน่งจุดบกพร่อง ให้ขบวนการผลิตขั้นต่อไปทราบพนักงานผลิตจะใช้ชอล์กสีขีดที่ขอบกระดาษในตำแหน่ง ที่เกิดจุดบกพร่อง ในการวิจัยนี้ได้จัดทำระบบการตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ แบบอัตโนมัติ โดยใช้กล้อง CCD Line Scan ร่วมกับการควบคุมความเข้มของแสงบนผิว หน้ากระดาษ โดยกระดาษที่ไม่มีจุดบกพร่องจะให้ค่าการเปลี่ยนแปลงความเข้มแสงแบบ ต่อเนื่อง ในขณะที่กระดาษที่มีจุดบกพร่องจะให้ค่าการเปลี่ยนแปลงแบบไม่ต่อเนื่อง ใน การตรวจจับจุดบกพร่องนี้จะใช้การอ่านค่าความเข้มแสงจากภาพที่ได้จากกล้อง CCD Line Scan จากการทดลองระบบสามารถตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษได้ ร้อยละ 95.8 จากจำนวนตัวอย่างที่ใช้ในการทดลองทั้งหมด |
| บรรณานุกรม | : |
สมชาย มานะพากเพียรกิจ . (2544). การตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ ในขบวนการผลิต.
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สมชาย มานะพากเพียรกิจ . 2544. "การตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ ในขบวนการผลิต".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย. สมชาย มานะพากเพียรกิจ . "การตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ ในขบวนการผลิต."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2544. Print. สมชาย มานะพากเพียรกิจ . การตรวจจับจุดบกพร่องบนผิวหน้ากระดาษ ในขบวนการผลิต. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2544.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
