| ชื่อเรื่อง | : | CHARACTERIZATION OF 0. 1 mu m THICK SILICON LAYERS ON POROUS OXIDIZED SILICON. |
| นักวิจัย | : | Kazuo Imai |
| คำค้น | : | - |
| หน่วยงาน | : | ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | - |
| อ้างอิง | : | - |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | - |
| บรรณานุกรม | : |
Kazuo Imai . (). CHARACTERIZATION OF 0. 1 mu m THICK SILICON LAYERS ON POROUS OXIDIZED SILICON..
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี. Kazuo Imai . . "CHARACTERIZATION OF 0. 1 mu m THICK SILICON LAYERS ON POROUS OXIDIZED SILICON.".
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี. Kazuo Imai . "CHARACTERIZATION OF 0. 1 mu m THICK SILICON LAYERS ON POROUS OXIDIZED SILICON.."
กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี, . Print. Kazuo Imai . CHARACTERIZATION OF 0. 1 mu m THICK SILICON LAYERS ON POROUS OXIDIZED SILICON.. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี; .
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
