| ชื่อเรื่อง | : | การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น |
| นักวิจัย | : | ฉันทัช ลักษณานันท์ |
| คำค้น | : | - |
| หน่วยงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| ผู้ร่วมงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ , โอฬาร กิตติธีรพรชัย |
| ปีพิมพ์ | : | 2557 |
| อ้างอิง | : | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/46200 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557 ในช่วงทศวรรษที่ผ่านมา อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ต่างๆไม่ว่าจะเป็นโทรศัพท์มือถือหรือกล้องถ่ายรูปดิจิตอลนั้น กลายเป็นส่วนหนึ่งที่ผู้อุปโภคใช้กันอย่างแพร่หลายในชีวิตประจำวัน ส่วนประกอบหนึ่งที่จะช่วยให้อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์เหล่านี้มีขนาดเล็ก บาง และมีฟังก์ชั่นการทำงานที่หลากหลาย คือแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น โดยการประกอบอุปกรณ์ทางไฟฟ้าต่างๆบนพื้นผิวที่มีความยืดหยุ่นด้วยการใช้กระบวนการประกอบพิเศษที่มีเทคโนโลยีและความแม่นยำสูงเรียกว่า Surface Mount Technology (SMT) ซึ่งในกระบวนการ SMT นั้น มีข้อบกพร่องที่สำคัญและทำให้เกิดของเสียที่ไม่สามารถนำมาแก้ไขได้คือ คราบของสารบัดกรีเปื้อนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่นคิดเป็น 520 PPM ของผลิตภัณฑ์ทั้งหมดที่ผลิต ดังนั้นจึงได้มีการใช้เทคนิคต่างๆ เพื่อหาสาเหตุของการเกิดข้อบกพร่อง พบว่าขั้นตอนการทำความสะอาดของเครื่องพิมพ์สารบัดกรีเป็นหนึ่งในสาเหตุหลักของการเกิดข้อบกพร่องนี้ หลังจากนำแนวคิดของซิกซ์ ซิกมามาใช้ในการปรับปรุงกระบวนการ ซึ่งสัดส่วนข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีเปื้อนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่นได้ถูกเลือกเป็นค่าตอบสนองหลักของการทดสอบสมมติฐานและการออกแบบการทดลอง การกำหนดค่าพารามิเตอร์ที่แนะนำในการทำความสะอาดด้วยใช้การออกแบบการทดลองแบบเชิงแฟคทอเรียล สองระดับปัจจัยที่มีสองการทดลองซ้ำ โดยพารามิเตอร์ที่แนะนำคือ การเช็ดทำความสะอาดด้วยทิศทางเดียวกัน ที่ความเร็วในการเช็ด 80 มิลลิเมตรต่อวินาทีโดยไม่ต้องเปิดใช้แรงดูดสูญญากาศ ผลที่ได้จากการเริ่มใช้พารามิเตอร์นี้แสดงให้เห็นว่ามีข้อบกพร่องจะลดลงเหลือ 250 PPM หรือลดลงร้อยละ 51.92 จากกระบวนการเดิมก่อนการปรับปรุง และมูลค่าความเสียหายต่อชิ้นลดลงจาก 17.21 บาท เหลือ 10.94 บาท |
| บรรณานุกรม | : |
ฉันทัช ลักษณานันท์ . (2557). การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. ฉันทัช ลักษณานันท์ . 2557. "การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. ฉันทัช ลักษณานันท์ . "การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557. Print. ฉันทัช ลักษณานันท์ . การลดของเสียเกิดจากข้อบกพร่องประเภทคราบของสารบัดกรีบนแผ่นวงจรพิมพ์แบบยืดหยุ่น. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2557.
|
