ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Edge effects in silicon IGFETs.

หน่วยงาน Edinburgh Research Archive, United Kingdom

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Edge effects in silicon IGFETs.
นักวิจัย : Serack, James Arthur
คำค้น : Electric , apparatus , and , appliances , Electronic , apparatus , and , appliances , Solid , state , physics
หน่วยงาน : Edinburgh Research Archive, United Kingdom
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2531
อ้างอิง : 314405 , http://hdl.handle.net/1842/7489
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย : -
บรรณานุกรม :
Serack, James Arthur . (2531). Edge effects in silicon IGFETs..
    กรุงเทพมหานคร : Edinburgh Research Archive, United Kingdom .
Serack, James Arthur . 2531. "Edge effects in silicon IGFETs.".
    กรุงเทพมหานคร : Edinburgh Research Archive, United Kingdom .
Serack, James Arthur . "Edge effects in silicon IGFETs.."
    กรุงเทพมหานคร : Edinburgh Research Archive, United Kingdom , 2531. Print.
Serack, James Arthur . Edge effects in silicon IGFETs.. กรุงเทพมหานคร : Edinburgh Research Archive, United Kingdom ; 2531.