ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ
นักวิจัย : อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์
คำค้น : เครื่องอ่าน (อุปกรณ์ประมวลผลข้อมูล) , การลดปริมาณของเสีย , Reading machines (Data processing equipment) , Waste minimization
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : อังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/42277
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดจำนวนของเสียในกระบวนการผลิตฮาร์ดดิสก์ ไดร์ฟอันเนื่องมาจากข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มที่เกิดขึ้นที่จานบันทึกข้อมูล โดยการประยุกต์ใช้ 5 ขั้นตอนของเทคนิคซิกซ์ ซิกม่า ในขั้นแรกได้เลือกข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มมาวิเคราะห์ก่อนเนื่องจากมีความสำคัญที่สุด โดยมีสัดส่วนของเสียเท่ากับ 6.03% และ 2.53% ตามลำดับ ขั้นที่สองพบว่าระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล ความคมของฝาครอบระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน–เขียน และจำนวนการทดสอบ load/unload คือ ปัจจัยนำเข้าที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย ขณะที่แรงลมในการฉีดวางและแรงลมในการดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูล คือ ปัจจัยที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม ถัดมาได้ทำการออกแบบการทดลองแบบบ็อกซ์-เบ็ห์นเคนและการทดลองเชิงแฟคทอเรียลตามลำดับ โดยผลที่ได้จากการออกแบบการทดลองจะใช้วิธีการวิเคราะห์พื้นผิวตอบสนองถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าที่เหมาะสมที่สุดสำหรับปัจจัยจำนวนสี่ปัจจัยซึ่งจะทำให้เปอร์เซ็นต์ข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยน้อยที่สุด ส่วนวิธีเชิงเส้นทั่วไปถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าปัจจัยจำนวนสองปัจจัยสำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม โดยค่าของปัจจัยที่เหมาะสมที่สุดในกระบวนการ คือ ระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล 3 มิลลิเมตร ความคมของฝาครอบ 0.002 นิ้ว ระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน – เขียน 0.01 นิ้ว และจำนวนการทดสอบ load/unload 10,000 ครั้ง เมื่อติดตามผลด้วยแผนภูมิควบคุม p สำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย แผนภูมิความคุม p นี้ยังใช้ในการติดตามผลของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มด้วยเงื่อนไขของกระบวนการที่สนใจ คือ 2,250 มิลลิเมตรปรอท และ 440 มิลลิเมตรปรอท ของแรงในการฉีดวางและดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูลตามลำดับ หลังการปรับปรุง พบว่าสัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยลดลง 53.56% โดยลดจากเดิม 6.03% เป็น 2.80% ขณะที่สัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มลดลง 60.55% โดยลดจากเดิม 2.53% เป็น 0.99%

บรรณานุกรม :
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ . (2555). การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ . 2555. "การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ . "การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555. Print.
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ . การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2555.