| ชื่อเรื่อง | : | กระบวนการเจือสารในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ด้วยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออนสารเจือ |
| นักวิจัย | : | มนตรี แสนละมูล , การุณ แซ่จอก , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , ชาญเดช หรูอนันต์ , อัมพร โพธิ์ใย , Montree Saenlamool , Karoon Saejok , Suwat Sopitpan , Charndet Hruanun , Amporn Poyai |
| คำค้น | : | Doping process , Ion implantation , Ion implanter , การยิงฝังประจุไอออน , การเจือสารในผลึกซิลิกอน , ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ , เครื่องยิงฝังประจุ |
| หน่วยงาน | : | สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2551 |
| อ้างอิง | : | http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/19126 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | กระบวนการเจือสารคือ กระบวนการที่ทำให้สารที่มีความบริสุทธิ์ สูญเสียความบริสุทธิ์ เพื่อเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติทางกายภาพของสารนั้นๆ การเจือสารในวัสดุสารกึ่งตัวนำ จัดทำขึ้นเพื่อเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติการนำไฟฟ้าของสารนั้นให้ดีขึ้น การเจือสารนิยมใช้สองวิธีคือ วิธีการแพร่สารเจือ (Diffusion) และวิธีการยิงฝังประจุสารเจือ (Implantation) ในบทความนี้นำเสนอการเจือสารโดยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออน (Ion Implantation) ประกอบไปด้วย เทคโนโลยีการเจือสารโดยกระบวนการยิงฝังประจุไอออน เครื่องยิงฝังประจุ ขั้นตอนการเจือสาร ผลการเจือสาร การวิเคราะห์ผล ประโยชน์และการประยุกต์ใช้งานการยิงฝังประจุ ซึ่งกระบวนการดังกล่าวทำขึ้น ณ ศูนย์เทคโนโลยีไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (ทีเมค) ซึ่งนับได้ว่ามีความพร้อมในการสร้างอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่มีขนาดลายวงจรในระดับต่ำกว่า 1 ไมครอน บนแผ่นผลึกซิลิกอนขนาด 6 นิ้ว (ภาวัน สยามชัย และคณะ, 2547) Doping is a process of introducting impurities in order to change physical properties of material. In semiconductor, this process is normally used to change electrical properties. The two methods, commonly used, are diffusion and ion implantation techniques. This paper presents an ion implantation technology, an implantation machine, a doping technique, doping results, analytical results, benefits and applications of implantation process. This process is currently used for submicron IC fabrication technology at Thai Mircroelectronic Center (TMEC) |
| บรรณานุกรม | : |
มนตรี แสนละมูล , การุณ แซ่จอก , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , ชาญเดช หรูอนันต์ , อัมพร โพธิ์ใย , Montree Saenlamool , Karoon Saejok , Suwat Sopitpan , Charndet Hruanun , Amporn Poyai . (2551). กระบวนการเจือสารในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ด้วยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออนสารเจือ.
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. มนตรี แสนละมูล , การุณ แซ่จอก , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , ชาญเดช หรูอนันต์ , อัมพร โพธิ์ใย , Montree Saenlamool , Karoon Saejok , Suwat Sopitpan , Charndet Hruanun , Amporn Poyai . 2551. "กระบวนการเจือสารในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ด้วยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออนสารเจือ".
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ. มนตรี แสนละมูล , การุณ แซ่จอก , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , ชาญเดช หรูอนันต์ , อัมพร โพธิ์ใย , Montree Saenlamool , Karoon Saejok , Suwat Sopitpan , Charndet Hruanun , Amporn Poyai . "กระบวนการเจือสารในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ด้วยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออนสารเจือ."
ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2551. Print. มนตรี แสนละมูล , การุณ แซ่จอก , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , ชาญเดช หรูอนันต์ , อัมพร โพธิ์ใย , Montree Saenlamool , Karoon Saejok , Suwat Sopitpan , Charndet Hruanun , Amporn Poyai . กระบวนการเจือสารในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ด้วยเทคนิคการยิงฝังประจุไอออนสารเจือ. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2551.
|
