ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design.

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design.
นักวิจัย : Ong, Beng Hwee.
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Integrated circuits.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2548
อ้างอิง : Ong, B. H. (2005). Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design. Master’s thesis, Nanyang Technological University, Singapore. , http://hdl.handle.net/10356/4991
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

The characterization and modelling of on-chip interconnects had been carried out in this project. First, an overview of the on-chip interconnect on lossy silicon-based process is presented. Second, on-wafer high frequency measurements of the on-chip interconnects are carried out and investigated in depth.

บรรณานุกรม :
Ong, Beng Hwee. . (2548). Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design..
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ong, Beng Hwee. . 2548. "Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design.".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ong, Beng Hwee. . "Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design.."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2548. Print.
Ong, Beng Hwee. . Characterization and modeling of on-chip interconnects for silicon RFIC design.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2548.