| ชื่อเรื่อง | : | Optical metrology under extreme conditions |
| นักวิจัย | : | Li, Xide , Pedrini, Giancarlo , Fu, Yu |
| คำค้น | : | DRNTU::Science::Physics::Weights and measures |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2557 |
| อ้างอิง | : | Li, X., Pedrini, G., & Fu, Y. (2014). Optical Metrology under Extreme Conditions. The Scientific World Journal, 2014, 263603-. , 1537-744X , http://hdl.handle.net/10220/20371 , http://dx.doi.org/10.1155/2014/263603 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | The scientific world journal |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | Abstract is not available in fulltext. |
| บรรณานุกรม | : |
Li, Xide , Pedrini, Giancarlo , Fu, Yu . (2557). Optical metrology under extreme conditions.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Li, Xide , Pedrini, Giancarlo , Fu, Yu . 2557. "Optical metrology under extreme conditions".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Li, Xide , Pedrini, Giancarlo , Fu, Yu . "Optical metrology under extreme conditions."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2557. Print. Li, Xide , Pedrini, Giancarlo , Fu, Yu . Optical metrology under extreme conditions. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2557.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
