| ชื่อเรื่อง | : | ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs |
| นักวิจัย | : | Asenov, Asen , Schlichtmann, Ulf , Tan, Cher Ming , Wong, Hei , Zhou, Xing |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering. |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2555 |
| อ้างอิง | : | http://hdl.handle.net/10220/11112 , http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.05.003 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | Microelectronics reliability |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | Abstract not available in fulltext. |
| บรรณานุกรม | : |
Asenov, Asen , Schlichtmann, Ulf , Tan, Cher Ming , Wong, Hei , Zhou, Xing . (2555). ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Asenov, Asen , Schlichtmann, Ulf , Tan, Cher Ming , Wong, Hei , Zhou, Xing . 2555. "ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Asenov, Asen , Schlichtmann, Ulf , Tan, Cher Ming , Wong, Hei , Zhou, Xing . "ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print. Asenov, Asen , Schlichtmann, Ulf , Tan, Cher Ming , Wong, Hei , Zhou, Xing . ICMAT 2011 : Reliability and variability of semiconductor devices and ICs. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
