งานวิจัยนี้ ได้ดำเนินการบีบอัดข้อมูลภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Electron Microscope, EM) ด้วยวิธีการแปลงเวฟเล็ตแบบดีสครีท โดยภาพ EM เมื่อ นำมาแปลงด้วยวิธีเวฟเล็ตแบบดีสครีท ข้อมูลที่เป็นพื้นผิววัตถุจะอยู่ที่ สัมประสิทธิ์ที่แบนด์ย่อยความถี่ต่ำ และข้อมูลที่เป็นขอบหรือลายเส้นของวัตถุ จะอยู่ที่สัมประสิทธิ์ที่แบนด์ย่อยความถี่สูง ดังนั้นการบีบอัดข้อมูลภาพ EM ด้วยการแปลงเวฟเล็ตจะต้องให้ความสำคัญกับสัมประสิทธิ์ทุกแบนด์ย่อย อัลกอริทึม Set Partitioning in Hierarchical Tree (SPIHT) เป็นอัลกอริทึมที่เข้ารหัสโดย ให้ความสำคัญกับขนาดของสัมประสิทธิ์และไม่สนใจว่าสัมประสิทธิ์ตัวนั้นจะอยู่ใน ระดับแบนด์ย่อยใด วิทยานิพนธ์นี้ได้เสนอวิธีการพัฒนาอัลกอริทึม SPIHT ให้ สามารถบีบอัดข้อมูลภาพได้เพิ่มขึ้น โดยการเพิ่ม List of Forbidden Coefficients (LFC) และเพิ่มเงื่อนไขการเข้ารหัสและการถอดรหัส พร้อมทั้งหา เวฟเล็ตแม่ที่เหมาะสมกับอัลกอริทึมที่ทำการพัฒนา และทำการหาข้อสรุปในการหา ระดับอัตราบิตที่เหมาะสมของการบีบอัดข้อมูลภาพ EM จากการประเมินผลด้วยแบบ สอบถาม ผลการบีบอัดภาพ EM ด้วยการแปลงเวฟเล็ตแบบดีสครีท ที่ใช้ bi9-7 เป็น เวฟเล็ตแม่ในการแปลงเวฟเล็ต แล้วมาเข้ารหัสด้วยอัลกอริทึม SPIHT ที่ผ่านการ ปรับปรุงจะให้ผลการบีบอัดข้อมูลภาพ EM ที่ดีที่สุด และระดับอัตราบิตที่เหมาะสม สำหรับการบีบอัดภาพ EM คือ ภาพที่มีรายละเอียดภาพต่ำจะมีอัตราบิตเท่ากับ 0.25 bpp และภาพที่มีรายละเอียดสูงจะมีอัตราบิตเท่ากับ 1 bpp ซึ่งภาพที่อัตราบิต ดังกล่าวจะเป็นภาพที่พอจะนำมาใช้ทดแทนภาพต้นแบบได้ และการนำข้อมูลที่ผ่านการ บีบอัดด้วยอัลกอริทึม SPIHT ที่ผ่านการปรับปรุงมาเข้ารหัสเลขคณิต จะทำให้ ข้อมูลมีขนาดเล็กลง