วิทยานิพนธ์ฉบับนี้เป็นรายงานการศึกษาค้นคว้าวิจัยเกี่ยวกับการพัฒนาออกแบบและประกอบ สร้างเครื่องวิเคราะห์ดีสชาร์จบางส่วนในอุปกรณ์ไฟฟ้าแรงสูงที่ใช้ไมโครคอมพิวเตอร์เป็นฐาน เพื่อใช้ใน การตรวจจับดีสชาร์จบางส่วน (PD) ตามข้อกำหนดของมาตรฐาน IEC60270 ลักษณะ ของระบบวัดที่ใช้เป็นแบบวิธีตรง โดยมีช่วงความถี่ที่วัด 40 ถึง 420 กิโลเฮิรตช์ ความไวของภาคตรวจจับ PD เมื่อใช้ทดสอบวัสดุทดสอบทั่วไปที่มีค่าความจุถึง 1 นาโนฟารัด และใช้ตัวเก็บประจุคัปปลิงขนาด 1 นาโนฟารัด ซึ่งจะให้ความไวดีกว่า 1 พิโคคูลอมบ์ วงจรภาคดิจิทัลของเครื่องวิเคราะห์ดีสชาร์จบาง ส่วนโปรแกรมไว้ใน Field Programmable Gate Arrays (FPGA) บนแผงวงจรที่ออกแบบ ให้ติดตั้งอยู่ภายในคอมพิวเตอร์ เครื่องวิเคราะห์ดีสชาร์จบางส่วนจะประมวลผลและแสดงผลแบบเวลาจริง ในการใช้เครื่องวิเคราะห์ดีสชาร์จบางส่วนวิเคราะห์หาสาเหตุที่ทำให้เกิด PD ในอุปกรณ์ไฟฟ้าแรงสูง เครื่อง จะตรวจวัดและบันทึกข้อมูลลงในไฟล์คำนวณเมทริกซ์การกระจาย H(,n)((+,102)q) และแสดงผลแบบ 3 มิติ คำนวณค่าคุณลักษณะทางแฟรกทัลจากการกระจาย H(,n)((+,102)q) อธิบายการวิเคราะห์ค่าคุณลักษณะและจำแนก กลุ่มข้อมูลโดยใช้วิธี Centour score เพื่อหาสาเหตุที่ทำให้เกิด PD โดยอัตโนมัติ เครื่องวิเคราะห์ดีส ชาร์ดบางส่วนนี้มีข้อดีที่สามารถใช้งานได้สะดวกและสามารถใช้ทดสอบในห้องที่ไม่มีชีลด์ได้หากมีสัญญาณ รบกวนไม่มากนัก