ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
นักวิจัย : ภัทรจิตร มั่นทรัพย์
คำค้น : -
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : ศิรืธันว์ เจียมศิริเลิศ , ชัญชณา ธนชยานนท์ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิทยาศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2547
อ้างอิง : 97417594719 , http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/23512
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,2547

บรรณานุกรม :
ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . (2547). การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . 2547. "การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . "การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547. Print.
ภัทรจิตร มั่นทรัพย์ . การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของซิลิกอนเจอเมเนียมสำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์สำหรับไดโอดเลเซอร์โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2547.