ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม
นักวิจัย : เสรี กุลปิยะ
คำค้น : ซิกซ์ซิกมา (มาตรฐานการควบคุมคุณภาพ) , วงจรรวม , วงจรรวม -- การควบคุมคุณภาพ , Six sigma (Quality control standard) , Integrated circuits , Integrated circuits -- Quality control
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : อังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2556
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/52761
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดของเสียในกระบวนการผลิตสำหรับผลิตภัณฑ์วงจรรวม อันเนื่องมาจากข้อบกพร่องประเภทขนาดความกว้างของการบิ่นบนตัวผลิตภัณฑ์ออกนอกค่าการยอมรับ โดยการประยุกต์ใช้ 5 ขั้นตอนของเทคนิคซิกซ์ ซิกมา ในขั้นแรกได้เลือกข้อบกพร่องประเภทขนาดความกว้างของการบิ่นบนตัวผลิตภัณฑ์มาวิเคราะห์ เนื่องจากมีค่าดัชนีความสามารถของกระบวนการค่อนข้างต่ำโดย Cpk เท่ากับ 0.66 ซึ่งระบุจากระยะการวัดเพื่อระบุสาเหตุของปัญหา ถัดมาได้ทำการออกแบบการทดลองเศษส่วนเชิงแฟคทอเรียลในระยะวิเคราะห์สาเหตุของปัญหาเพื่อระบุปัจจัยที่นำเข้าที่มีนัยสำคัญได้แก่ อุณหภูมิน้ำ แรงดันน้ำ และความเร็วในการตัด ในระยะการปรับปรุงแก้ไขปัญหาได้ทำการออกแบบการทดลอง แบบบ็อกซ์-เบห์นเคน โดยผลที่ได้จากการออกแบบการทดลองจะใช้วิธีการวิเคราะห์พื้นผิวตอบสนองถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าที่เหมาะสมที่สุดสำหรับปัจจัยจำนวนสามปัจจัยซึ่งจะทำให้ขนาดความกว้างของการบิ่นบนตัวผลิตภัณฑ์มีค่าน้อยที่สุด โดยค่าของปัจจัยที่เหมาะสมที่สุดในกระบวนการคือ อุณหภูมิน้ำเท่ากับ 10 องศาเซลเซียส แรงดันน้ำเท่ากับ 2 ลิตรต่อนาที และความเร็วในการตัดเท่ากับ 30 มิลลิเมตรต่อวินาทีตามลำดับ เมื่อติดตามผลด้วยแผนภูมิควบคุม - R สำหรับข้อบกพร่องประเภทความกว้างของการบิ่น หลังการปรับปรุงพบว่าขนาดความกว้างของการบิ่นเป็นไปตามที่กำหนดไว้คือน้อยกว่า 2 mil และค่าดัชนีความสามารถของกระบวนการของเพิ่มขึ้นเป็น 1.41 ซึ่งมากกว่าเกณฑ์การยอมรับด้านเดียวที่ 1.25

บรรณานุกรม :
เสรี กุลปิยะ . (2556). การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
เสรี กุลปิยะ . 2556. "การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
เสรี กุลปิยะ . "การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556. Print.
เสรี กุลปิยะ . การประยุกต์ใช้ซิกซ์ ซิกมาในการลดข้อบกพร่องจากการบิ่นของผลิตภัณฑ์วงจรรวม. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2556.