วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556

งานวิจัยนี้ศึกษาการตรวจสอบในกระบวนการผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์พบว่ามีของเสียหลุดจากการตรวจสอบและถูกส่งไปให้กับลูกค้าจำนวนมาก ของเสียที่พบมากกว่า 80 เปอร์เซ็นต์สามารถมองเห็นและตรวจพบได้ด้วยการตรวจสอบด้วยสายตา จากการวิเคราะห์ระบบการวัดเดิมแสดงให้เห็นว่าพนักงานตรวจสอบมีปัญหาในเรื่องประสิทธิผลด้านไบอัสและประสิทธิผลด้านรีพีททะบิลิตี้มีค่าเท่ากับ 43 เปอร์เซ็นต์ และ 47 เปอร์เซ็นต์ ตามลำดับ ดังนั้นได้ปรับปรุงกระบวนการตรวจสอบและประเมินผลพนักงานอีกครั้ง ผลของทั้งสองดัชนีเพิ่มขึ้นเป็น 97 เปอร์เซ็นต์ นอกจากนี้ยังได้วัดผลความมีประสิทธิผลของระบบการวัดและสัมประสิทธิ์ Kappa ผลการวิเคราะห์สามารถยอมรับการตรวจสอบของพนักงานทุกคนได้ หลังจากปรับปรุงวิธีการตรวจสอบและการตรวจสอบของพนักงานทุกคนได้มาตรฐานแล้ว แผนการสุ่มตัวอย่างจึงถูกนำมาใช้ในช่วงท้ายของกระบวนการผลิตก่อนส่งสินค้าให้ลูกค้า แผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันใช้มาตรฐาน ANSI/ASQC Z1.4 แผนการสุ่มตัวอย่างนี้ให้คุณภาพลอตงานหลังการตรวจสอบสูงสุด (AOQL) เท่ากับ 0.0147 เปอร์เซ็นต์ โรงงานกรณีศึกษาต้องการให้ลอตงานที่ส่งออกไปมีระดับคุณภาพอยู่ที่ 0.005 เปอร์เซ็นต์ จึงนำมาใช้ออกแบบแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอมีค่า AOQL เท่ากับ 0.005 เปอร์เซ็นต์ การเปรียบเทียบการทำงานของแผนการสุ่มตัวอย่างโดยการใช้เส้นโค้ง OC และการวิเคราะห์ค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบ ผลการเปรียบเทียบพบว่าแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอให้เส้นโค้ง OC ที่มีความสามารถแยกลอตงานดีออกจากลอตงานเสียได้ดีกว่าแผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบัน ค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบลดลงกว่า 50 เปอร์เซ็นต์จากค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบของแผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันคิดเป็นเงินเท่ากับ 26,570.4 บาท และแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอคิดเป็นเงินเท่ากับ 17,789.4 บาท