ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ
นักวิจัย : วิสวัส เลิศวณิชกุล
คำค้น : ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมคุณภาพ , ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมต้นทุนการผลิต , Hard disks (Computer science) -- Quality control , Hard disks (Computer science) -- Cost control
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2556
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/49748
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อนำเสนอการลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมของบริษัทผลิตหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์ โดยการสร้างวิธีการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่ของหัวอ่านเขียนเพื่อใช้แทนการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบเดิม วิธีการทดสอบแบบใหม่ใช้เทคนิค Discriminant Analysis (DA) มาช่วยพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นจากการทดสอบแบบเดิมซึ่งมีผล 2 แบบคือ ผ่านและไม่ผ่าน หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะมีผล “ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะไม่ทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้น แต่หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะ “ไม่ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้นตามปกติ วิธีการทดสอบแบบใหม่ซึ่งจะมีการข้ามการทดสอบหัวอ่านเขียนบางส่วน จะช่วยประหยัดต้นทุนในการตรวจสอบลงได้ แต่การข้ามการทดสอบจะทำให้มีต้นทุนเพิ่มขึ้นจากของเสียที่จะพบในกระบวนการถัดไป ผู้วิจัยจึงได้ศึกษารายการต้นทุนที่จะเปลี่ยนแปลงจากการใช้แผนการทดสอบแบบใหม่ และศึกษาว่าแผนการทดสอบแบบใหม่สามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ ผลการศึกษาพบว่าการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่สามารถพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นได้ถูกต้องสูงถึง 90% และหากนำไปประยุกต์ใช้จริงในบริษัทต้นแบบ จะสามารถลดการใช้งานเครื่องทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ลงได้ 20% อีกทั้งยังสามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ 15,667,625 บาทต่อปี

บรรณานุกรม :
วิสวัส เลิศวณิชกุล . (2556). การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
วิสวัส เลิศวณิชกุล . 2556. "การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
วิสวัส เลิศวณิชกุล . "การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556. Print.
วิสวัส เลิศวณิชกุล . การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2556.