| ชื่อเรื่อง | : | การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ |
| นักวิจัย | : | วิสวัส เลิศวณิชกุล |
| คำค้น | : | ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมคุณภาพ , ฮาร์ดดิสก์ -- การควบคุมต้นทุนการผลิต , Hard disks (Computer science) -- Quality control , Hard disks (Computer science) -- Cost control |
| หน่วยงาน | : | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| ผู้ร่วมงาน | : | นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ |
| ปีพิมพ์ | : | 2556 |
| อ้างอิง | : | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/49748 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | - |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556 งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อนำเสนอการลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมของบริษัทผลิตหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์ โดยการสร้างวิธีการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่ของหัวอ่านเขียนเพื่อใช้แทนการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบเดิม วิธีการทดสอบแบบใหม่ใช้เทคนิค Discriminant Analysis (DA) มาช่วยพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นจากการทดสอบแบบเดิมซึ่งมีผล 2 แบบคือ ผ่านและไม่ผ่าน หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะมีผล “ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะไม่ทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้น แต่หาก DA พยากรณ์ว่าหัวอ่านเขียนตัวนั้นจะ “ไม่ผ่าน” การทดสอบ บริษัทจะทดสอบหัวอ่านเขียนตัวนั้นตามปกติ วิธีการทดสอบแบบใหม่ซึ่งจะมีการข้ามการทดสอบหัวอ่านเขียนบางส่วน จะช่วยประหยัดต้นทุนในการตรวจสอบลงได้ แต่การข้ามการทดสอบจะทำให้มีต้นทุนเพิ่มขึ้นจากของเสียที่จะพบในกระบวนการถัดไป ผู้วิจัยจึงได้ศึกษารายการต้นทุนที่จะเปลี่ยนแปลงจากการใช้แผนการทดสอบแบบใหม่ และศึกษาว่าแผนการทดสอบแบบใหม่สามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ ผลการศึกษาพบว่าการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์แบบใหม่สามารถพยากรณ์ผลที่คาดว่าจะเกิดขึ้นได้ถูกต้องสูงถึง 90% และหากนำไปประยุกต์ใช้จริงในบริษัทต้นแบบ จะสามารถลดการใช้งานเครื่องทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ลงได้ 20% อีกทั้งยังสามารถลดต้นทุนคุณภาพโดยรวมลงได้ 15,667,625 บาทต่อปี |
| บรรณานุกรม | : |
วิสวัส เลิศวณิชกุล . (2556). การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ.
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. วิสวัส เลิศวณิชกุล . 2556. "การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ".
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. วิสวัส เลิศวณิชกุล . "การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ."
กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556. Print. วิสวัส เลิศวณิชกุล . การออกแบบแผนการทดสอบคุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ของหัวอ่านเขียนฮาร์ดดิสก์เพื่อลดต้นทุนคุณภาพ. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2556.
|
