| ชื่อเรื่อง | : | A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness |
| นักวิจัย | : | Li, X. D. , Chen, T. P. , Liu, P. , Liu, Y. , Liu, Z. , Leong, K. C. |
| คำค้น | : | DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering |
| หน่วยงาน | : | Nanyang Technological University, Singapore |
| ผู้ร่วมงาน | : | - |
| ปีพิมพ์ | : | 2557 |
| อ้างอิง | : | Li, X. D., Chen, T. P., Liu, P., Liu, Y., Liu, Z., & Leong, K. C. (2014). A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness. Journal of Applied Physics, 115(10), 103512-. , 0021-8979 , http://hdl.handle.net/10220/19570 , http://dx.doi.org/10.1063/1.4868338 |
| ที่มา | : | - |
| ความเชี่ยวชาญ | : | - |
| ความสัมพันธ์ | : | Journal of applied physics |
| ขอบเขตของเนื้อหา | : | - |
| บทคัดย่อ/คำอธิบาย | : | Dielectric function, band gap, and exciton binding energies of ultrathin ZnO films as a function of film thickness have been obtained with spectroscopic ellipsometry. As the film thickness decreases, both real (ε1 ) and imaginary (ε2 ) parts of the dielectric function decrease significantly, and ε2shows a blue shift. The film thickness dependence of the dielectric function is shown related to the changes in the interband absorption, discrete-exciton absorption, and continuum-exciton absorption, which can be attributed to the quantum confinement effect on both the band gap and exciton binding energies. |
| บรรณานุกรม | : |
Li, X. D. , Chen, T. P. , Liu, P. , Liu, Y. , Liu, Z. , Leong, K. C. . (2557). A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness.
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Li, X. D. , Chen, T. P. , Liu, P. , Liu, Y. , Liu, Z. , Leong, K. C. . 2557. "A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness".
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore. Li, X. D. , Chen, T. P. , Liu, P. , Liu, Y. , Liu, Z. , Leong, K. C. . "A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness."
กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2557. Print. Li, X. D. , Chen, T. P. , Liu, P. , Liu, Y. , Liu, Z. , Leong, K. C. . A study on the evolution of dielectric function of ZnO thin films with decreasing film thickness. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2557.
|
ridm@nrct.go.th ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย รายการโปรดที่คุณเลือกไว้
