ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Ju

หน่วยงาน มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Junphong
นักวิจัย : Pimporn Junphong
คำค้น : Mass spectrometer
หน่วยงาน : มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2549
อ้างอิง : Th 539.60287 P644S , http://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1400739 , http://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/34195
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย : -
บรรณานุกรม :
Pimporn Junphong . (2549). System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Ju.
    เชียงใหม่ : มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ .
Pimporn Junphong . 2549. "System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Ju".
    เชียงใหม่ : มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ .
Pimporn Junphong . "System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Ju."
    เชียงใหม่ : มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ , 2549. Print.
Pimporn Junphong . System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Ju. เชียงใหม่ : มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ ; 2549.